◆  产品中心

德国A.S. & Co. Spectravision紫外可见近红外全光谱显微分光光度计

浏览量:0
?在线咨询

◆  产品详情

 

概况︰

最新的A.S & Co产品系列SpectraVision 4,App模块包含多种硬件控制,如PMT,光谱仪,成像摄像头,光源灯;可以完成标准设置的测试分析,也可以进行客户自定义的独立研究分析。SpectraVision 4进行反射率测量是通过选择PMT或者CCD探测器完成的,可根据客户需要进行灵活配置。探测器直接耦合在光路中,不需要光纤连接,能够达到最优的信号接收品质。可选制冷循环系统,可以极大提高信噪比(S/N)。

产品概述和特点

SpectraVision 4成像模块是一种新开发的工具,能够帮助镜质体的测量。基于现代成像系统的12-16bit动态范围视频摄像头探测器,得到原始的成像图片。同时能够记录下测量位置的信息。可应用到特殊领域,如焦化厂煤质分析。快速给出煤品质和颗粒度等计算信息,提供最优的煤阶配比。成像显示样品形貌和测量位置,同时给出直方图信息。基于电动控制载物台的系统,可以自动扫描样品,自动分析测试结果,输出测试报告。

SpectraVision 4可以在一套App中根据用户的实际需要,提供多种独立和功能强大的应用模块。系统可以进行标准化的镜质体反射率测量,同时也可进行精密、复杂的样品探测,完成反射,透射,荧光光谱分析。

SpectraVision 4地质和有机岩相学应用主要特点

?  镜质体反射率

?  多种有机质成分分布

?  偏振模式

?  显微荧光光谱

?  成熟度研究

?  色域分析

?  镜质体反射率和荧光光谱相关研究

?  自动成像和工业、岩相学图像测量

?  波长精度定标和信号强度动态范围检测

?  自动感测和荧光标定

SpectraVision 4系统特点

?  标准546nm波长反射率测量;

?  计算直方图符合DIN/ISO 标准;

?  测量结果符合GB/T12937-2008GB/T 8899-2013GB/T 15590-2008标准所需测量要求。

?  统计参数如平均值,标准偏差;

?  多组分分布测量。

根据显微镜能力,SpectraVision 4具有的功能

?  明场、暗场透射模式;

?  明场、暗场反射模式;

?  偏振模式;

?  荧光模式;

?  三维模拟成像。

 

 1显微镜光照下图形

2通过circular-difference-interference-contrast(循环微分干涉对比)技术,使得三维微观结构可视化

技术参数

光谱范围

220-2100nm

荧光激发

360-546nm

光源

高效能氘卤复合光源或氙灯

采样面积

<1um2

光谱分辨率

0.8nm

探测器

TE制冷CCD+InGaAs阵列探测器

像素尺寸

24umx24um

积分时间

0-60s

成像

500万像素

操作系统

Windows7Windows8Windows10

XML 地图 | Sitemap 地图