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JEM-F200 场发射透射电子显微镜

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·以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

·外观设计精炼

·精炼的外型,全新的视觉感受。
为分析型电镜全新设计的GUI,使操作更加直观方便。
JEOL长年积累的丰富经验在设计上得到了充分的体现,与旧机型相比,电镜的机械性和电气稳定性都得到了很大的提高。

·四级聚光镜系统

·现在的电子显微镜需要支撑范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-“Quad-Lens condenser system”,通过分别控制电子束强度和汇聚角,能满足各种研究的需求。

·高端扫描系统

·JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan System” 即成像系统的电子束扫描功能(选配)。

·皮米样品台驱动

·JEM-F200 采用能以皮米级步长移动样品台的Pico stage drive(不用压电驱动),能在宽动态范围移动视野-从样品的整个栅网视野移动到原子级图像视野移动都能进行。

·SpecPorter(自动插入和拔出样品杆的装置)

·插入和拔出样品杆,对电镜初学者来说一直是高难度的操作。 JEM-F200配备的SpecPorter,即使新手也能轻松掌握,将样品杆安装在指定的位置上,只用一个按钮即能安全地插入或拔出。

·改进的冷场发射电子枪

·JEM-F200能安装高稳定性、高亮度和高能量分辨率的冷场发射电子枪(选配),该枪的利用可以进行EELS化学结合状态分析,高亮度的电子束缩短了分析时间,并且还降低了来自光源的色差,实现了高分辨率的观察。

·双能谱(SDD)

·JEM-F200能同时安装两个大口径、分析灵敏度高的硅漂移检测器(SDD)(选配件)。 凭借更高的灵敏度,EDS分析速度更快,对样品的损伤更小。

·环保节能

·JEM-F200是第一个标配了ECO模式的透射电子显微镜。ECO模式系统能将能源消耗降低到正常模式时的1/5,可以在装置不运行时,以最小的能耗保持着电镜的最佳条件。该设备具有排程功能,能在指定的时间将电镜从ECO模式恢复到工作状态。

 

                                                                  超高分辨极靴                                                                        高分辨极靴

分辨率

TEM点分辨率

0.19 nm

0.23 nm

STEM-HAADF 像

0.14 nm @冷场枪

0.16 nm @冷场枪

0.16 nm @热场枪

0.19 nm @热场枪

加速电压

200 , 80 kV

200 , 80 kV

主要选配件

能谱仪(EDS)、电子能量损失谱仪(EELS)、CCD相机、TEM/STEM断层扫描系统

 

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